北川 賢司 | 東京理科大学

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概要

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• 同名の論文著者
• 東京理科大学の論文著者

関連著者

• 北川 賢司

  東京理科大学

• 小林 雅一

  東京理科大学

• 森 俊介

  東京理科大学理工学部経営工学科

• 小林 生徳

  東京理科大学

• 森 俊介

  東京理科大学

• 北川 賢司

  東京理科大学理工学部

著作論文

• FTAの改良
• 設計審査について
• 電子デバイスへのFTAの応用
• 電子デバイスの劣化パターンと故障分布
• 寿命に対する信頼性的アプローチ
• 研究開発投資の内部収益率による評価
• 電子デバイスの寿命分布について
• 電気デバイスの加速寿命試験法
• 電子機器のFTAによる信頼度解析
• ベイズ法による寿命試験計画

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