二波長・ジグザグスキャニング方式の薄層デンシトメトリーにおける検量線の直線化
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概要
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すでに報告した二波長・ジグザグスキャニング方式のデンシトメーターの特長を生かして,従来薄層デンシトメトリーにおけるネックであった検量線の非直線性を解消する検量線補正装置を試作した.これは薄層スポットを微小光束でジグザグスキャニングしたときの吸光度を濃度に比例した値に補正したあとで積分器で積分する方式で,吸光度-濃度の関係はKubelka-Munkの理論曲線に基づいて補正した.同一種類のプレートを用いれば,サンプルの種類や測定波長に無関係に同一の理論曲線で直線化できるなどはん用性のある良好な結果を得た.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
著者
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山本 裕志
島津製作所
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山本 裕志
株式会社島津製作所
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栗田 昂
株式会社島津製作所
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鈴木 十五郎
株式会社島津製作所
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平 陸男
株式会社島津製作所
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中野 清和
株式会社島津製作所
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真壁 英樹
株式会社島津製作所
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