二波長・ジグザグスキャニング方式による薄層クロマトスポットの直接定量
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
二波長測光法と微小光束によるジグザグスキャニング法とを組み合わせた新しい方式のデンシトメーターを開発し,薄層クロマトプレート上に展開・分離したスポット成分を直接定量することを試みた.<BR>二波長法は,薄層の厚みむらによるベースラインノイズを除去し,ジグザグスキャニング法は形や大きさが不均一なスポットや,紫外吸収しかもたず肉眼で確認困難なスポットの測定の再現精度を改善するのにきわめて有効であった.くりかえし再現精度は,内部標準法を用いた場合1〜2%程度であった.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
著者
関連論文
- 高性能薄層のクロマトグラフィ-の新展開
- 自記分光々度計の顕微分光付属装置の試作 : 光
- 二波長・ジグザグスキャニング方式の薄層デンシトメトリーにおける検量線の直線化
- 二波長・ジグザグスキャニング方式による薄層クロマトスポットの直接定量
- 混濁試料の分光測定装置とその応用について
- 電子計算機の発光分光分析への応用