濾紙粉末を用いたけい光X線分析法のCu<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>Cr<SUB>2</SUB>S<SUB>4</SUB>単結晶中の銅とインジウムの定量への応用
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概要
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X-Ray fluorescence spectroscopy was successfully applied to determine the copper and indium content in small crystals grown from Cu<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>Cr<SUB>2</SUB>S<SUB>4</SUB> powder. The method was found to be a useful technique for the analysis of semimicroquantities of copper and indium. Results show that the ratio of copper to indium always exceeds unity. This indicates a higher preferential incorporation of copper, compared to that of indium, into crystals grown from Cu<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>Cr<SUB>2</SUB>S<SUB>4</SUB> powder by the vapor transport method. No crystals with the composition Cu<SUB>0.5</SUB>In<SUB>0.5</SUB>Cr<SUB>2</SUB>S<SUB>4</SUB> were found.
- 社団法人 日本分析化学会の論文
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