Huang散乱による点欠陥の最近の研究
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
Huang scattering allows the measurements of the symmetry and strength of point defects produced by irradiations and constitutes a very sensitive method for observing the clustering that occurs during irradiations or annealings.<BR>In the present review, the principles and characteristics of the Huang scattering and recent investigations using this technique are described.
- 日本結晶学会の論文
著者
関連論文
- 2p-M-6 X線散漫散乱
- 低温におけるPdおよびPd-Fe 希薄合金中の水素の移動
- イオン照射による電子材料の改質(I)
- 5Kで高速中性子照射したオ-ステナイトステンレス鋼と高マンガン鋼の極低温引張特性
- Huang散乱による点欠陥の最近の研究
- X線回折用ガラス製クライオスタット
- ルテチウム中の水素の拡散