収束電子回折法による結晶構造解析

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る

• The method to refine crystal structure parameters (atom positions and Debye-Waller factors) using convergent-beam electron diffraction (CBED) is described. The method is powerful for crystal structure analysis of a nm-scale specimen area.

• 日本結晶学会の論文

著者

• 田中 通義

  東北大学科学計測研究所

• 津田 健治

  東北大学科学計測研究所

関連論文

• 透過電子回折法
• JEMをもりたてよう
• 結晶学会について
• IUCrのEC meeting に出席して
• 電子顕微鏡・電子回折の拓く道
• 高分解能エネルギー分析電子顕微鏡の開発 : フラレンへの応用
• サブnmに挑む--未来型電子顕微鏡
• 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡
• 収束電子回折法の発展-精密構造解析
• 高分解能 EELS
• 収束電子回折法による4次元空間群の決定
• 収束電子回折法による結晶構造解析

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク