解析写真測量におけるMultiplets Methodについて

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概要

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• 写真測量においては,撮影されたときの写真の空間位置およびその傾きを知る必要がある.このように写真の撮影状態を決めることを標定と呼ぶが,この標定問題はいくつかの写真上に像を結ぶ光線は撮影時においては被写点において交わっていたという条件より解かれる.本文では,この解を求める最も一般的な方法として,多数の写真を用いて行なうMultiplets methodを提案し,その考え方と解法を説明する.このMultiplets methodは実用的にはいわゆるブロック調整などを可能にするため多くの利点をもつがこの点についても述べる.

• 東京大学生産技術研究所,Institute of Industrial Science. University of Tokyo,東京大学生産技術研究所 第5部 写真測量学の論文

著者

• 中村 英夫

  東京工業大学社会工学科

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