負の群遅延特性を持つ埋込F-SIR型伝送線路構造の検討(若手研究者発表会)
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概要
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負の群遅延特性は,システムの群遅延を補償するイコライザーなどのSI改善方法への応用が期待されている.本報告では,低損失な負の群遅延特性発現帯域を実現するために,対称性を保ちつつ設計の自由度の高いopen-stubを持つ埋込F-SIR型伝送線路構造を提案した.はじめに,埋込F-SIR型構造による負の群遅延特性の実現について検討した.次に,負の群遅延特性に影響する構造パラメータ(F-SIRとopen-stubの間の誘電体厚み依存性,open-stub共振器の寸法)を検討した.最後に,実証モデルで最大負遅延-15.64ns,帯域幅30MHz,挿入損失-30dBの負の群遅延特性が得られることを実験及び電磁界解析によって示した.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-07-04
著者
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