26aBB-12 光渦ビームを用いた弱測定による偏光状態の直接測定(量子エレクトロニクス(量子力学・量子通信・量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 2013-08-26

著者

• 野中 弘二

  高知工科大

• 小林 弘和

  高知工科大

• 鹿野 豊

  分子科学研

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