OS1-1 制御システムにおける共通原因故障の影響と対策(産業・化学機械に関する新技術・生産性向上)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
ハードウェアの信頼性は、生産システムの生産性を担保する重要な指標である。特に、安全関連系のSIL、PLの導出における冗長、多重防護ハードウェアの故障率は、PFH/PFDの計算式で示されている。しかし、その値の最も大きな部分を占める共通原因故障: β,CCFについては、想定外として軽視されているのが実態である。本稿では、制御システムにおける最大のCCF要因である電磁ノイズについて初期段階での対策がいかに重要であるかを紹介し、ノイズによる誤動作を防止するノウハウを、実例に基づいて報告する。
- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2011-11-11
著者
-
戸枝 毅
社団法人日本電機工業会:plc技術専門委員会:safety Plc Wg:富士電機システムズ株式会社オートメーション事業本部:エンジニアリングセンター制御・安全システム第一部
-
戸枝 毅
富士電機株式会社生産統括本部東京事業所システム技術センター社会システム第一部