26aXZA-4 Si(001)表面上に成長した3次元シリサイド島のφスキャンRHEED測定による3次元逆格子マッピング(26aXZA 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 大門 寛

  奈良先端大

• 服部 賢

  奈良先端大

• 太田 啓介

  奈良先端大・物質創成

• 太田 啓介

  奈良先端大

• 木村 明日香

  奈良先端大

• 服部 賢

  奈良先端大・物質創成

• 中家 佑吾

  奈良先端大・物質創成

• 中家 佑吾

  奈良先端大:物質創成

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