光コネクタにおける高パワー通光時の損傷現象の検討(光ファイバ,<特集>震災復興や新興国の近未来に役立つ情報ネットワーク技術論文)
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概要
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ハイパワー通光時の光コネクタ端面での損傷現象を,主として分光学的な立場から調べてその発生原因を特定した.その結果,コア面に付着した光吸収性物質中に存在するアルキルN-H基や,アミドN-H基,またはアルコールO-H基によって,1.55μm光が吸収されること,異物が挟まれて発生したコア間の空隙中に多く含まれる水分によって1.48μm光が吸収されること,光吸収性物質や水分が10^4〜10^6m^<-1>オーダの大きな光吸収係数を示すことを明らかにした.更に,この大きな光吸収係数によって発生した熱が,隣接するコアに伝えられてコアの溶融やファイバヒューズを発生させることを差分法による熱伝導解析により明らかにした.
- 2013-06-01
著者
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