24aCC-1 ホモエピタキシー成長中のRHEED強度振動の起源 : Si(001)とGaAs(001)の比較(24aCC 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
27pYG-11 GaAs(001)ホモエピタキシャル成長中のRHEED強度振動の起源(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
-
19aYM-8 結晶X線ウェーブガイドにおける濃縮効果(X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
23aWS-2 GaAs(001)面上MBE成長モフォロジーとRHEED強度振動(23aWS 表面界面構造(半導体),領域9(表面・界面,結晶成長))
-
5a-P-8 GaAsにおけるGa K吸収端近傍での共鳴散乱ペンデルビート
-
5a-P-7 共鳴散乱ペンデルビート法によるGeのf'決定
-
1a-N-10 X線共鳴散乱による干渉縞
-
20aTH-10 共鳴動力学回折によるGe K吸収端における異常散乱因子の決定
-
先端追跡
-
31p-A-14 共鳴散乱を伴う動力学回折におけるポインティングベクトル
-
2a-KK-5 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)II
-
11p-T-9 吸収端を交差した回折強度の温度依存性(ラウエケース)
-
25pTG-10 GaAs(001)面上の島形状によるRHEED強度変化(25pTG 表面界面構造(半導体・無機化合物),領域9(表面・界面,結晶成長))
-
7a-X-3 非対称反射条件下でのBormann効果の理論的考察(Laue case)
-
24aCC-1 ホモエピタキシー成長中のRHEED強度振動の起源 : Si(001)とGaAs(001)の比較(24aCC 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
-
31a-M3-7 X線共鳴散乱による干渉縞の検出:Ge(X線・粒子線)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク