SSDシステム信頼性 : 大容量記憶装置を半導体で実現する課題(招待講演,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)

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概要

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• SSDの記憶容量が増えていくと言うことはSSD装置の内部に搭載されるメモリチップ内の総回路数が巨大化することであり、故障可能性がある箇所の母数が増えていくことになる。むろんブロックデバイス(セクター単位で読み書きをする装置)であるので訂正動作は可能であるが、それで単純にはカバーできない範囲もある。更に不揮発記憶装置として要求される特性もあり、単純な上書きは不可能であるフラッシュメモリの特性と相侯って確実なアドレス管理が要求される。

• 2012-04-16

著者

• 助川 博

  (株)東芝セミコンダクター社

• 助川 博

  株式会社東芝セミコンダクター&ストレージ社半導体研究開発センターメモリシステム開発部

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