反射干渉法の測定精度改善とLiNbO_3結晶の電気光学係数γ_<22>の測定
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概要
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反射干渉法[1]は,非常にシンプルな光学系で電気光学(EO)結晶のすべての電気光学係数を測定できるが,高次の多重反射光に起因する理論系統誤差をもつ.そこで,理論系統誤差を最小化する解析・実験法を提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-12-01
著者
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