ADMリングネットワークのインサービス試験を実現する試験光バイパスモジュールを用いた光線路試験システム(光ファイバ,光ファイバケーブル,光ファイバ部品,光信号処理,光計測,光伝搬,光発生,一般)
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概要
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設備ビルと複数のユーザビルにADM(add/drop multiplexer)を設置し,各ビルを環状に接続したリングネットワークを用いて,高速・広帯域,かつルート2重化による信頼性の高い光サービスが提供可能である.一方,光線路の建設・保守コストを低減するため,1650nmを保守波長として用いた光線路試験システムが開発・導入されている.現行の光線路試験システムは,設備ビルとユーザ間が1対1もしくは1対Nと光ファイバで直接接続している場合に対応している.しかし,リングネットワークの場合,設備ビルとユーザビルを環状に配置しているため,現行の光線路試験システムではユーザビル間の光線路を試験できない.そこで,試験光バイパスモジュールを使用した新たな光線路試験システムについて報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-08-20
著者
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