超高速光デバイスの応答特性検証のための時間-周波数プロファイル計測技術(フォトニックNWシステム・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,光集積回路,光導波路素子,光スイッチング,導波路解析,及び一般)
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概要
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情報通信,物性計測をはじめとした超短光パルスの応用が進み,その更なる短パルス化(広帯域化)が求められるにつれて,分散マネージメントをはじめ用いられる光デバイスの時間応答の波長依存性の把握が非常に重要となってくる.本稿では,今後,超短光パルスのプロファイリングをする各種計測・測定技術の中でも,超短光パルスの時間的な短縮化とともにさらに重要となってくると考えられる時間-周波数分布計測技術の有望なアプローチとして,著者らが提案している光スペクトログラムスコープの手法を用いた超高速光デバイスの応答特性検証のための時間-周波数プロファイル計測について報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-01-22
著者
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