スピンエッチングによるφ300mmウェハのステイン膜形成(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
従来、浸漬式によるステイン膜(ポーラスシリコン)形成が報告されている。スピンエッチングを用いた表面処理技術としてステイン膜形成を試みる。ステイン膜のアプリケーションとしては、薄ウェハ化後の裏面膜絶縁、保護、3次元実装等への応用が考えられる。ウェハは300mmP型ウェハを使用する。HF:HNO3:H2Oを用い薬液組成を検討した。スピンエッチングではウェハ上の薬液の流れ方でステイン膜厚の分布が変化するため、エッチングパラメータの最適化を行った。その結果ステイン膜をウェハ全面で均一に形成できた。
- 2008-06-06
著者
関連論文
- シリコンウェハ裏面研削ダメージの評価 (特集 シリコンウェハの高付加価値化--ウェハ薄型化加工の実際) -- (ウェハ薄型化加工の実際)
- スピンエッチングによるφ300mmウェハのステイン膜形成(半導体のプロセス・デバイス(表面,界面,信頼性,一般))
- スピンエッチングによる薄ダイ化対応技術 (特集 SiP(システム・イン・パッケージ)実装を支える要素技術) -- (SiP実装のための薄ダイ化技術)
- 後工程用基板エッチング装置「ガリレオシリーズ」 (全冊特集 半導体製造装置の新しいコンセプト)
- 枚葉洗浄装置 (全冊特集 新材料の導入と半導体製造装置) -- (半導体製造装置・周辺機器)
- スピンエッチングによるφ300mmウェハのステイン膜形成