501 アナライザを用いたひずみスキャニング法の表面効果の補正(応力測定法・応力計算, 残留応力の測定と評価)
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概要
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- 社団法人日本材料学会の論文
- 2005-05-20
著者
-
鈴木 裕士
(独)日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門
-
鈴木 裕士
原子力機構
-
水木 純一郎
日本原子力研究所関西研究所放射光科学研究センター
-
水木 純一郎
原研放射光
-
鈴木 裕士
原研
-
菖蒲 敬久
原研放射光
-
鈴木 裕士
原研中性子
-
鈴木 裕士
日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門
-
鈴木 裕士
日本原子力研究開発機構
-
鈴木 賢治
新潟大学教育人間科学部生活環境学科
-
菖蒲 敬久
(独)日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門放射光技術開発グループ
-
菖蒲 敬久
日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門放射光科学研究ユニット
-
鈴木 賢治
新潟大学教育人間科学部生活環境学科目
-
鈴木 賢治
新潟大学
-
水木 純一郎
日本原子力研究開発機構関西光科学研究所放射光科学研究ユニット
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