Charge Transport after Hard Breakdown in Gate Oxides

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人応用物理学会の論文
• 2002-04-30

著者

• Heyns M.m.

  Interuniversity Microelectronics Center

• BEARDA T.

  Interuniversity Microelectronics Center

• WOERLEE P.H.

  University of Twente

• WALLINGA H.

  University of Twente

関連論文

• Charge Transport after Hard Breakdown in Gate Oxides

スポンサーリンク