Heyns M.m. | Interuniversity Microelectronics Center

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概要

• 同名の論文著者
• Interuniversity Microelectronics Centerの論文著者

関連著者

• Heyns M.m.

  Interuniversity Microelectronics Center

• BEARDA T.

  Interuniversity Microelectronics Center

• WOERLEE P.H.

  University of Twente

• WALLINGA H.

  University of Twente

著作論文

• Charge Transport after Hard Breakdown in Gate Oxides

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