漏洩磁束検量線法による表層欠陥のサイジング : アモルファスMIセンサを用いた二軸漏洩磁束探傷法(<特集>第15回MAGDAコンファレンス)
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概要
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- 日本AEM学会の論文
- 2007-06-10
著者
-
松本 英治
京都大学
-
琵琶 志朗
京都大学
-
安部 正高
京都大学エネルギー科学研究科エネルギー変換科学専攻
-
琵琶 志朗
京都大学エネルギー科学研究科
-
松本 英治
京都大学エネルギー科学研究科
-
琵琶 志朗
京都大学 大学院工学研究科
-
琵琶 志朗
名古屋大学
-
Biwa S
Department Of Micro System Engineering Nagoya University
-
琵琶 志朗
京都大学大学院工学研究科
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