C-3-70 スペックル多重記録の高密度化シミュレーション(光記録・計測(2),C-3.光エレクトロニクス,一般講演)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2006-09-07

著者

• 山本 学

  東京理科大学基礎工学部

• 佐野 匠

  東京理科大学

• 山本 学

  東京理科大学

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