C-3-8 積層光学素子の欠陥検出のための導波特性分析(導波路解析・設計,C-3.光エレクトロニクス,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-09-07
著者
-
栗本 英治
シャープ株式会社 精密技術開発センター
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倉田 幸夫
シャープ株式会社精密技術開発センター
-
三宅 知之
シャープ株式会社 映像技術研究所
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平野 兼二
シャープ株式会社 精密技術開発センター
-
Hirano Kenji
Precision Technology Development Center Sharp Corporation
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倉田 幸夫
シャープ(株)精密技術開発センター
-
南 功治
シャープ株式会社 精密技術開発センター
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三宅 知之
シャープ株式会社 精密技術開発センター
-
倉田 幸夫
シャープ株式会社生産技術開発推進本部
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