5.4章 乱流測定への挑戦 : 面的計測への展開,PIVによる流れ場の計測(<連載>エレクトロニクスの発展に支えられた流体計測の進展(5))
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概要
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古くより,粒子追跡法による流れ場を写真観察する方法が多用されていた.流線を描くには場全体の速度ベクトルが必要である.定量化するためにはトレーサー粒子を画像の中で的確に追従し,その時間間隔における移動距離を特定しなければならない.従来の方法によれば,写真に撮れる大きさの粒子を用い,スローシャッターでストリーク撮影した画像を以って流れの様相を見るものであった.強い光源であるレーザーとデジタルVideoカメラの発達に歩調をあわせて画像のコンピュータでの処理が出来るようになり,PIV (Particle Image Velocimetry)の定量的流れ場解析手法が確立した.原理,大枠の技術は以前より考えられていたものだが,高分解能の,また,高速videoの進歩がPIV法を現実のものとした. PIVの開発が周辺機器の発達を促した相乗効果も見逃せない.
- 日本流体力学会の論文
- 2006-12-25
著者
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