MnBi_xTe_y薄膜の磁気光学特性と磁性(III : 自然科学編)

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概要

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• Mn-Bi_xTe_y ternary thin films were produced by sequential evaporation, followed by an anneal at 350℃. The composition dependence of the Kerr rotaion angle, reflectivity, and the Hall effect were measured. The Kerr rotation angle at Te _<0.4> changed from positive to negative. In order to investigate of this origin, X-ray difraction and magnetization were measured.

• 千葉大学の論文
• 1998-02-28

著者

• 松田 哲

  千葉大学教育学部

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