20pWF-5 へき開再成長GaAs量子井戸および細線デバイスの顕微発光イメージング(領域4,領域5合同シンポジウム : 半導体物性研究におけるイメージング計測の現状,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-08-19

著者

• 吉田 正裕

  東大物性研

• 秋山 英文

  東大物性研

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