赤外線サーモグラフィを用いた構造物における欠陥検査の高信頼化(OS4a 逆問題解析手法の開発と最新応用)

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概要

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• 一般社団法人日本機械学会の論文
• 2004-11-17

著者

• 天谷 賢治

  東工大

• 森 大樹

  東工大院

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