半導体信頼性試験方法の国内外における標準化の動向
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概要
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半導体のグローバルな展開の中で,信頼性試験方法の標準化が益々重要となってきている.信頼性試験規格は,JEITA(旧EIAJ),米国JEDECなどで独自に制定しているが,各々の規格には様々な技術的,歴史的背景の違いがあり,互いの整合化は進んでいなかった。しかし,最近はJEITAとJEDECのJoint Meetingの定期開催による協調関係の確立,IEC TC47/WG2(半導体の環境試験)での実用的な試験規格制定に向けた活動強化により,整合化が視野に入ってきている.ここでは,整合化に際して問題となっている事例を取り上げながら,JEITAとJEDEC間,IEC TC47/WG2で行っている試験規格整合化に向けた活動状況を報告する.
- 日本信頼性学会の論文
- 2002-01-25