Accurate Estimation of Aberrations of Microoptics Components through Intensity Measurements : Numerical Simulations for Best Positioning and Noise Analysis

スポンサーリンク

概要

著者

Marcos Soto
Area De Optica Facultade De Fisica Universidade De Santiago De Compostela Campus Sur
Susana RIOS
Area de Optica, Facultade de Fisica, Universidade de Santiago de Compostela, Campus Sur
Eva ACOSTA
Area de Optica, Facultade de Fisica, Universidade de Santiago de Compostela, Campus Sur
Valerii VOITSEKHOVICH
Universidad Autonoma de Mexico
Acosta Eva
Area De Optica Departamento De Fisoca Alicada Facultad De Fisica Universidade De Santiago De Compost
Eva Acosta
Area De Optica Facultade De Fisica Universidade De Santiago De Compostela Campus Sur
Susana Rios
Area De Optica Facultade De Fisica Universidade De Santiago De Compostela Campus Sur
RIOS Susana
Area de Optica, Departamento de Fisica Aplicada,Facultade de Fisica, Universidade de Santiago de Com
Soto Marcos
Area de Optica, Facultade de Fisica, Universidade de Santiago de Compostela, Campus Sur

関連論文

スポンサーリンク