2/3インチ25万画素SITイメージセンサのランダム雑音

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概要

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• The random noise of a 250k-pixel static induction transistor (SIT) image sensor is evaluated. The random noise is dependent on the bias voltage conditions. Under bias conditions which produce a large image lag, the random noise generated at the pixel is larger than the expected dark current shot noise. The phenomena are caused by the incomplete reset operation of the SIT gate.

• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 1991-02-28

著者

• 高柳 功

  オリンパス光学工業(株)半導体技術センター

• 中村 淳一

  アプティナジャパン

• 中村 淳一

  オリンパス

• 溝口 豊和

  オリンパス光学工業株式会社MC技術部

• 今井 正晴

  オリンパス光学

• 清水 悦朗

  オリンパス光学

• 溝口 豊和

  オリンパス光学

• 高柳 功

  オリンパス光学工業

• 中村 淳一

  Aptina Japan

• 高柳 功

  Aptina Japan

• 清水 悦朗

  オリンパス(株)

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