Accelerated Rampによる12bitカラムADCの高速化(アナログ・デジアナ・センサ, 通信用LSI)
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概要
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ランプADCは回路構成が単純であり少ない素子数でアナログ-デジタル変換回路が実現できること、低消費電力であること、単調性が保証され使いやすいことなどから、10ビット程度の列並列ADC方式のイメージセンサでよく用いられる[1-4]。しかしながら、ランプADCではビット数Nが増えると2^Nに比例して変換時間が長くなるため、12ビット以上の精度への適用が難しかった。本論文ではイメージセンサの特性を損なわずにランプADCの変換時間を1/10以下に短縮する方法を提案し、その特性をシミュレーション実験によって検証する。また、その圧縮方法を用いた12ビット出力400万画素CMOSイメージセンサを試作し評価したので、その結果についても報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-07-08
著者
-
高柳 功
マイクロンジャパン
-
高柳 功
アプティナジャパン
-
大高 俊徳
マイクロンジャパン
-
Lee Yan
UK Imaging Design Center, Micron Europe, Ltd.
-
Bales Timothy
UK Imaging Design Center, Micron Europe, Ltd.
-
Smith Paul
UK Imaging Design Center, Micron Europe, Ltd.
-
MacDowell Jonathan
Micron Technology, Inc.
-
Smith Scott
Micron Technology, Inc.
-
Lee Yan
Uk Imaging Design Center Micron Europe Ltd.
-
Bales T.
Aptina Europe Aptina Imaging Usa
-
Bales Timothy
Uk Imaging Design Center Micron Europe Ltd.
-
Smith Paul
Uk Imaging Design Center Micron Europe Ltd.
-
Smith Scott
Micron Technology Inc.
-
高柳 功
Aptina Japan
-
Macdowell Jonathan
Micron Technology Inc.
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