5)微小欠陥検出を目的とした差分画像処理X線透視法(情報入力研究会)
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概要
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- 1994-08-20
著者
-
池田 泰
(財)ファインセラミックスセンター
-
池田 泰
ファインセラミックス技術研究組合シナジーセラミックス研究所
-
水田 安俊
ファインセラミックスセンター
-
池田 泰
財団法人ファインセラミックスセンター材料技術研究所
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