69-88 撮像用シリコンダイオードアレイへバルクおよび表面の性質が及ぼす影響T.M.Buck, H.C.Casey, Jr., J.V.Dalton, M.Yamin : Influence of Bulk and Surface Properties on Image Sensing Silicon Diode Arrays, The Bell System Technical Journal, Vol.47,No.9,Nov., (1968), 1827-1854

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概要

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• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 1969-11-01

著者

• 堀内 重治

  日電東芝情報システム株式会社

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