堀内 重治 | 日電東芝情報システム株式会社
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
堀内 重治
日電東芝情報システム株式会社
-
辻 重夫
東京芝浦電気株式会社軽電技術研究所
-
辻 重夫
東芝総合研究所
-
白水 俊次
東芝総合研究所電子部品研究所
-
辻 重夫
東芝 中央研究所
-
白水 俊次
東芝
-
宮代 彰一
東芝
-
辻 重夫
東芝中央研究所
-
堀内 重治
東芝
-
辻 重夫
東芝
著作論文
- 鈴木賞受賞者グループ(21世紀のテレビジョンはどうなるか?(テレビジョン学会創立20周年記念特集)
- 2)シリコンターゲットによる電子像増倍(第15回 テレビジョン電子装置研究委員会)
- Siターゲットによる電子像増倍
- 超LSIのための微細加工技術
- 69-426 パルスおよび高調波発生回路に応用した場合のステップリカバリーダイオードの物理的モデル : J.L.Moll, S.A.Hamilton : Physical Modeling of the Step Recovery Diode for Pulse and Harmonic Generation Circuits, Proceedings of the IEEE, Vol.57,No.7,July, (1969), 1250-1259
- 69-260 可能性のある固体フライングスポットスキャナー, J.I.Pankove, A.R.Moore : A Potential Solid-state Flying-spot Scanner, RCA Review, Vol.30,No.1,Mar., (1969), 53-61
- 69-211 感度を電子的に調節できるシリコンビジコンターゲットS.R.Hofstein : A Silicon Vidicon Target with Electronically Variable Light Sensitivity and Spectral Response, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol.ED-15,No.12,Dec., (1968), 1018-1023
- 69-137 複雑な回路の要らない集積化固体表示装置G.I.Robertson, C.P.Sandbank : Integrated solid state display needs no complex circuitry, Electronics, Vol.42,No.3,Feb., (1968), 100-104
- 69-88 撮像用シリコンダイオードアレイへバルクおよび表面の性質が及ぼす影響T.M.Buck, H.C.Casey, Jr., J.V.Dalton, M.Yamin : Influence of Bulk and Surface Properties on Image Sensing Silicon Diode Arrays, The Bell System Technical Journal, Vol.47,No.9,Nov., (1968), 1827-1854
- 1) Siビジコンの試作(第7回 固体画像変換装置研究委員会)