一〓〓估LCD用SiO_2膜〓性能的新方法
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概要
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SiO_2 films on glass substrate are widely applied in Liquid Crystal Device (LCD) manufacturing. Based upon the P-etch measurement, the density and the thickness of the SiO_2 films can be measured. The authors propose a simple and fast way to evaluate the performance of SiO_2 coatings for industrial usage.
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1997-02-14
著者
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Xiaowei Zhao
Shenzhen Leybold Vactech Co. Ltd.
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Andong Tang
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.
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Luping Shang
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.
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Shimin Wang
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.
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王 士敏
Shenzhen Leybold Vactech Co. Ltd.
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Shimin Wang
Shenzhen Leybold Vactech Co. Ltd.
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Luping Shang
Shenzhen Leybold Vactech Co. Ltd.
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〓 安〓
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.
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商 〓平
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.
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〓 小〓
Shenzhen Leybold Vactech Co., Ltd.