レーザー光学素子の2次元波長掃引画像計測 : 情報入力,情報ディスプレイ
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概要
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A novel technique measuring the hidden structures of high precision mulilayer optics for free electron lasers and laser stabilization for gravity wave measurements has been developed. The reflected images of sample optics illuminated by wavelength-scanned monochromatic light were recorded and analized. The sharp variation of reflectance at the fringe edge wavelength was analized in terms of internal variation of thickness of thin films.
- 社団法人映像情報メディア学会の論文
- 1991-06-28
著者
-
植田 憲一
電通大レーザー研
-
田嶋 健一
電通大レーザー極限技術研究センター
-
上原 昇
日本航空電子工業
-
上原 昇
電通大レーザー極限技術研究センター
-
植田 憲一
電通大レーザー新世代研セ
-
植田 憲一
電通大レーザー
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