117.QR撮像装置における散乱線除去の効果(第24回秋季学術大会 一般研究発表予稿集)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本放射線技術学会の論文
- 1996-08-20
著者
-
浮田 昌昭
株式会社島津製作所基盤技術研究所
-
浮田 昌昭
島津製作所
-
田辺 晃一
株式会社島津製作所基盤技術研究所
-
石田 進一郎
株式会社島津製作所基盤技術研究所
-
堀 直之
(株)島津製作所基盤技術研究所
-
田辺 晃一
株式会社 島津製作所 基盤技術研究所
-
浮田 昌昭
株式会社 島津製作所 基盤技術研究所
-
堀 直之
株式会社 島津製作所 基盤技術研究所
-
石田 進一郎
株式会社 島津製作所 基盤技術研究所
関連論文
- 放射線検出器用CMOS電荷感応型アンプIC
- 74 QR撮像装置における散乱線の評価
- 73 QR撮像装置におけるX線強度分布の影響
- 74 QR撮像装置における散乱線の評価(第25回秋季学術大会一般研究発表予稿集)
- 73 QR撮像装置におけるX線強度分布の影響(第25回秋季学術大会一般研究発表予稿集)
- 285 QR撮像装置における散乱線除去の効果(2)
- 1.画像入力 : 量子計数型X線撮影装置の開発(QR撮影装置)(ディジタル放射線画像の解析技術:役に立つ画像処理システム, そして近未来では?)
- 117. QR撮像装置における散乱線除去の効果
- 116. Quantum Radiographyの画像効果 : 量子計数と従来法の違い
- 117.QR撮像装置における散乱線除去の効果(第24回秋季学術大会 一般研究発表予稿集)
- マイクロフォーカスX線CT技術と半導体検査への応用(光部品の実装,信頼性)
- マイクロフォーカスX線CT技術と半導体検査への応用(光部品の実装,信頼性)
- マイクロフォーカスX線CT技術と半導体検査への応用
- 125. QR(Quantum Radiography)の散乱線測定
- 116.Quantum Radiographyの画像効果 : 量子計数法と従来法の違い(第24回秋季学術大会 一般研究発表予稿集)
- 125. QR (Quantum Radiography) の散乱線測定 (第 22 回秋季学術大会一般研究発表予稿)
- マルチチャンネルCdTe放射線検出器とその応用