ミニファントムと真鍮キャップによるヘッド散乱係数測定での測方電子平衡と電子混入
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概要
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ヘッド散乱係数(S_h)は,電子混入を防ぐ横方向の十分な厚さをもち,光子ビームに完全に入る細いミニファントムや金属キャップを用いて測定できる.側方電子平衡(LEE)と電子混入のS_hへの影響を調べた.^<60>Coから24MVまでの光子ビームで完全なLEEを得る最小のビーム半径(r_<LEE>)を計算するために,EGS4モンテ・カルロ法を用いた.測定値より,側方電子平衡が成立しないことによりS_hに生じる誤差は無視できることが分かる.ミニファントムの半径,もしくはビルドアップキャップの側壁厚は,電子混入の影響を防ぐ十分な厚さがあればr_<LEE>以下に薄くできる.
- 社団法人日本放射線技術学会の論文
著者
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