3次元物体の逆散乱問題
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概要
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電磁波を照射した際の散乱界を用いて物体の媒質定数, 形状, 寸法等を再構成する回折トモグラフイは, 医用診断, 非破壊検査, 地中埋設物の探査等の諸分野において重要である. 本報告では, 近傍散乱界より3次元物体の誘電率を推定する逆散乱問題について考察を行っている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
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