アナログBOST(Built-Out Self-Test) : システムLSI時代の超低コストアナログテスト技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)

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概要

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• システムLSIの多機能化に伴い、様々なテスト手法が提案される中、我々は、アナログ回路部分のテスト手法として、BOST(Built-Out Self Test)に着目し、ロジックテスタを用いた安価なテストソリューションを提唱する。この手法の特徴としては、従来の高機能ミクストシグナルテスタや、機能に応じたテスタを使用するテスト工程の複雑化に対して、安価なテスタによる高精度、短時間のアナログテストを提供することであり、施備投資の削減が実現可能ということである。本論文では、アナログBOSTの基本機能を提案するとともに、その効果の検証結果を紹介する。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2001-12-14

著者

• 長澤 秀和

  三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部

• 花井 寿佳

  三菱電機株式会社半導体生産・技術統括部テスト技術部

• 山下 栄作

  菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社生産システム技術部

• 船倉 輝彦

  三菱電機株式会社半導体生産・技術統括部テスト技術部

• 森 長也

  菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社生産システム技術部

• 森 長也

  菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング

• 船倉 輝彦

  三菱電機 半導体生産・技術統括部

• 山下 栄作

  三菱電機 半導体生産・技術統括部

• 船倉 輝彦

  三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部

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