アナログBOST(Built-Out-Self-Test) : システムLSI時代の超低コストアナログテスト技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般)
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概要
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システムLSIの多機能化に伴い、様々なテスト手法が提案される中、我々は、アナログ回路部分のテスト手法として、BOST(Built-Out Self Test)に着目し、ロジックテスタを用いた安価なテストソリューションを提唱する。この手法の特徴としては、従来の高機能ミクストシグナルテスタや、機能に応じたテスタを使用するテスト工程の複雑化に対して、安価なテスタによる高精度、短時間のアナログテストを提供することであり、設備投資の削減が実現可能ということである。本論文では、アナログBOSTの基本機能を提案するとともに、その効果の検証結果を紹介する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-12-14
著者
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長澤 秀和
三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部
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花井 寿佳
三菱電機株式会社半導体生産・技術統括部テスト技術部
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船倉 輝彦
三菱電機株式会社半導体生産・技術統括部テスト技術部
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山下 栄作
三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部
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森 長也
三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部
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森 長也
菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング
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船倉 輝彦
三菱電機 半導体生産・技術統括部
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山下 栄作
三菱電機 半導体生産・技術統括部
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船倉 輝彦
三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部
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