a-Si TFTのフリッカノイズ測定とモデリング

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概要

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• 本論文では, a-Si TFT単体のフリッカノイズ, 熱雑音のモデル化を行い, 測定結果を使ってそのモデルパラメータを抽出し, 測定データとシミュレーションデータを比較検討する. 作成したモデルは, MOSFET, JFETのモデルをもとに開発しSPICEに搭載した.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1999-05-25

著者

• 青木 均

  日本ヒューレット・パッカード(株)デザイン&テストコンサルティング

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