励起準位Yb^+からの生成分子イオンの特性測定用イオントラップ装置の開発II(光集積回路/素子, スイッチング, PLC, ファイバ型デバイス, 導波路解析, 一般)
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概要
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励起準位にあるYb^+が背景残留ガスと反応し分子イオンとなる現象が知られている. この現象を詳細に調べるためのイオントラップ装置の開発を行なっている. 今回は, RF共鳴吸収法によってトラップされたYb^+の個数, および閉じ込め寿命の測定を行なったので報告する. イオンの生成停止後, トラップイオンの個数は10^5〜10^6個のオーダであることが分かった. イオンの閉じ込め寿命は緩衝気体の圧力に依存性があり, 最長閉じ込め寿命は圧力5.3×10^<-5>Paの時, 1.3×10^4sであった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-01-21
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- マイケル・ニールセン著, 高橋洋訳, オープンサイエンス革命, 紀伊國屋書店, 東京, 2013, 398p, 20×14cm, 本体2,200円, [専門〜一般向], ISBN978-4-314-01104-4