弾性的に任意の異方性を有する光導波路の応力解析法とそのひずみ誘起光導波路解析への応用
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概要
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弾性的に任意の異方性を有する光導波路の残留熱応力分布を評価することが可能な応力解析法を新たに提案すると共に, 応力解析の結果得られた屈折率変化を考慮して光導波路解析を行い, ひずみ誘起光導波路の伝送特性の厳密な評価を可能としている。応力解析, 光導波路解析のいずれにも有限要素法を採用しているので, 応力解析の結果得られた複雑な屈折率変化を光導波路解析に忠実に反映させることができる。SiO_2/GaAs構造, およびSiO_2/LiNbO_3構造のひずみ誘起光導波路を取り上げ, 導波路内に生じる応力やひずみ, 更には屈折率変化の様子を数値的に明らかにし, これらが光波の伝送特性に与える影響についで調べた結果を示している。異方性を考虜して応力解析から光導波路解析までを実施したのは, 筆者らの知る限り, これが最初である。
- 1998-01-25
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