MIL-HDBK-217Fの故障率モデルについて
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
「MIL-HDBK-217F : 電子機器の信頼度予測」の故障率モデルでは温度ストレスファクタと電気的ストレスファクタが重要な役割を果たしているが、反応速度モデルからこれらのファクタがどのように誘導されたかを明らかにし、あわせて非斉次ポアソン確率過程としての故障発生則を論じる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-11-07
著者
関連論文
- 部品点数法の改善 : ストレス考慮による予測精度の向上
- 部品点数法の改善 : ストレス考慮による予測精度の向上
- Bellcoreの信頼度予測法(第10回信頼性シンポジウムREAJ)
- MIL-HDBK-217Fの故障率モデルについて
- 信頼度設計における信頼度予測技術の役割