光周波数変調法による高速分散測定と可変分散補償器の過渡応答測定への応用(高効率FEC,電気処理による分散・PMD補償技術,波形モニタリング,一般)
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概要
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我々は可変分散補償器の過渡応答の測定に十分な測定速度と測定精度を持った分散測定システムを開発した。本システムは光周波数変調法に基づくものであり、30nm以上に渡ってモードホッピングなしで動作可能な波長可変VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser)レーザを用いて光周波数変調幅を大きくしている。これにより群遅延リプルの測定に与える影響を抑圧し、同時にS/N比を向上させることができる。本報告では、まず光周波数変調法の原理と改良方法について述べ、温度コントロールチャープ度ファイバブラッググレーティング可変分散補償器の過渡応答の測定への応用を行う。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-06-11
著者
-
吉新 喜市
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
-
松本 貞行
三菱電機株式会社先端技術総合研究所
-
多久島 裕一
東京大学先端科学技術研究センター
-
廣田 洋一
東京大学先端科学技術研究センター
-
吉新 喜市
三菱電機先端技術総合研究所
-
吉新 喜市
三菱電機
-
松本 貞行
三菱電機株式会社 先端技術総合研究所
-
松本 貞行
三菱電機株式会社
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