小型センサーと3入力位相差測定装置を用いた、ICおよびプリント基板の近傍電磁界分布の測定
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概要
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3入力信号位相差測定装置を用いることで、従来のベクトルシグナルアナライザを用いた場合より適用範囲の広い近傍電磁界分布測定システムを作製した。この測定システムは、周波数や位相が時間とともに変化する信号についても位相差の測定が可能である。これによって、実際に動作している回路基板やICについても、その近傍電磁界の大きさと位相の分布が測定できるようになった。この報告では、この測定システムによる回路基板にEMI対策部品を挿入した場合の近傍電磁界の分布変化の測定例や1GHz以上の周波数におけるICの近傍電磁界の測定例によって、この測定システムの有効性を示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-04-12
著者
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