超高速極限的低電力MOS回路における熱容量雑音と動作安定性
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概要
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集積回路の高速化のために高集積化、低電力化が強く求められているが、最終的には数えられる程度の電子数で回路を動作させなければならないと考えられる。ここでは、印加電圧による負荷容量内の電子数についての解析をもとに、新しく動作安定性の温度依存性を解析するために容量内における熱エネルギーによる電子数ゆらぎについての確率分布を求め、これらの合成の確率分布を導出して総合的な雑音特性を解析する。これをもとに誤動作確率を求め動作安定性を確保するために必要となる電子数を示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-01-20
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