位相変調パルス列の単一ショット位相シフト測定(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他)
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概要
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超短光パルスが持つ広帯域スペクトル成分の内部位相を情報伝送に利用するためには,パルスごとに異なる内部位相変調を与え,かつ,その位相を個別に測定する位相検出技術,すなわち「単一ショット位相測定」が必要不可欠である.今回,我々は位相変調したパルス列の単一ショット位相シフト測定に成功した.このためには,遅延時間を掃引することなく位相情報を抽出できるスペクトル領域干渉計とフェムト秒領域の光パルスのパルス列を時間的にとらえることができるストリークカメラを組み合わせる必要がある.さらに,パルスごとに異なる情報が載っているパルス列を測定する一例として,非線形光学媒質中での光励起屈折率変化を用いて,パルス列の中の特定の光パルスのみに位相変調を与えた.これらより,繰り返し周波数76MHzのパルス列の中の特定の光パルスのみに与えた非線形位相シフトを単一のパルスで測定した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-01-23
著者
-
三沢 和彦
東京農工大学工学府物理システム工学専攻
-
覧具 博義
東京農工大学
-
三沢 和彦
東京農工大院工
-
赤川 武志
東京農工大学 工学部 物理システム工学科
-
三沢 和彦
東京農工大
-
三沢 和彦
農工大
-
赤川 武志
東京農工大学工学部物理システム工学科科学技術振興機構crest
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